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詞條說明
選擇是X熒光光譜儀?很多人都有這樣的疑問,X-射線熒光光譜儀是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X-熒光)。說起來很復雜,其實這就是一種檢測有毒物質的檢測儀!尤其適合ROHS的檢測!ROHS2.0剛剛通過,在有毒物質方面,各國的檢測標準都有嚴格的要求,很多企業因此損失嚴重,ROHS檢測需要有實驗室和團隊完成,而國內的
ICP-OES、ICP-MS、AAS傻傻分不清ICP-OES,即電感耦合等離子體(ICP)光譜儀;而ICP-MS,則以ICP方法離子質譜分析。有時,人們會叫它。“ICP質譜分析”。那他們和AAS有什么區別?如何選擇統計分析方法?針對有著ICP-OES有技術背景的人,ICP-MS它是一種以質譜儀器為探測器的等離子體(ICP),但質譜分析學者認為,質譜分析學者認為ICP-MS是一個以ICP質譜儀器為源
金屬材料是可以做成分鑒定的,檢測的項目包括硬度檢測、牌號鑒定、元素分析、物理性能、力學性能、工藝性能、失效分析、金相檢驗、腐蝕性能、無損檢驗。金屬成分分析是指利用大型分析檢測儀器對金屬材料或制品進行分析檢測,確定其成分和含量,用于了解金屬的材質和質量。檢測時選擇一家專業的檢測機構是非常重要的。上海復旦復達科技有限公司擁有博士工程師、碩士工程師助理等分析技術服務團隊!國家重點實驗室技術平臺,**儀
1、原理:X射線照射樣品,經過鍍層界面,射線返回的信號發生突變,根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號分不開)。2、XRF鍍層測厚儀:俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。應用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
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微 信: 18550531168
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
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網 址: skyray1.b2b168.com
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